[实用新型]一种老化机台芯片测试板有效
| 申请号： | 201520121865.3 | 申请日： | 2015-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN204495961U | 公开（公告）日： | 2015-07-22 |
| 发明（设计）人： | 刘昭麟;栗振超;李威良;崔广军 | 申请（专利权）人： | 山东盛品电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 250101 山东省济南*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种老化机台芯片测试板，包括从上向下依次放置的压合盖、待测芯片、老化测试板及老化测试设备，所述老化测试板与待测芯片相接触的一面上设置有用于容纳该待测芯片的空腔结构。通过结构的老化测试板，解决不同芯片需定制开发、购买大量的测试座的问题，避免针对每种产品模具开发等大量时间、资金投入，较为快速的实现芯片老化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 机台 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种老化机台芯片测试板，其特征是，包括从上向下依次放置的压合盖、待测芯片、老化测试板及老化测试设备，所述老化测试板与待测芯片相接触的一面上设置有用于容纳该待测芯片的空腔结构。
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