[实用新型]侧边抛磨光纤及其传感器有效
| 申请号： | 201520127863.5 | 申请日： | 2015-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN204584944U | 公开（公告）日： | 2015-08-26 |
| 发明（设计）人： | 赵静;王义平;廖常锐 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | B24B37/02 | 分类号： | B24B37/02;B24B37/013;B24B49/12;G01D5/26;G02B6/02 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 陈健 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种简便的侧边抛磨光纤及其传感器。本实用新型通过将单模光纤无扭曲地自然拉直，并将其两端固定，然后利用粗研磨料在光纤的一侧沿光纤长度方向对光纤进行来回研磨，使研磨区的表面沿光纤长度方向形成若干划痕；在研磨过程中，实时监测光纤的传输光谱，当传输光谱形成高对比度MZI干涉光谱时停止研磨。本实用新型简化了光纤侧边抛磨工艺，可与现有设备兼容，同时，不需要细磨及抛光，缩短了制备时间。制备的侧边抛磨光纤的传输光谱可形成高对比度干涉光谱，无需其它后续光学结构，可直接作为传感器的敏感部应用于众多测试领域，具有结构简单、灵敏度高、响应快、使用便捷等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 侧边 磨光 及其 传感器 | ||
【主权项】：
一种侧边抛磨光纤，其特征在于，所述光纤为单模光纤，所述光纤的一侧有一研磨区，所述研磨区的表面沿所述光纤的长度方向形成有若干划痕；所述研磨区的表面与所述光纤的纤芯形成MZI干涉结构。
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