[实用新型]一种表面深度测量装置有效
| 申请号： | 201520132397.X | 申请日： | 2015-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN204468088U | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | 陈霞 | 申请（专利权）人： | 莆田市荔城区聚慧科技咨询有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/107 | 分类号： | A61B5/107 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 351100 福建省莆*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种表面深度测量装置，包括：扫描装置，用于扫描待测物体表面深度；成像装置，用于将扫描装置测量的数据处理成图像；显示装置，用于输出物体表面待测深度；还包括用于将扫描成像图上单位像素点代表的空气中光程进行标定的标定装置；用于存储扫描成像图中单位像素所代表空气中单位光程的存储装置；用于把测量待测物体表面深度在扫描成像图中的像素值的测量装置；用于计算待测物体表面深度的计算装置。本实用新型的有益效果：无需直接接触、无损快速、操作方便且测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 深度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种表面深度测量装置，包括：扫描装置，用于扫描待测物体表面深度；成像装置，用于将扫描装置测量的数据处理成图像；显示装置，用于输出物体表面待测深度；其特征在于：还包括用于将扫描成像图上单位像素点代表的空气中光程进行标定的标定装置；用于存储扫描成像图中单位像素所代表空气中单位光程的存储装置；用于把测量待测物体表面深度在扫描成像图中的像素值的测量装置；用于计算待测物体表面深度的计算装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于莆田市荔城区聚慧科技咨询有限公司，未经莆田市荔城区聚慧科技咨询有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520132397.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
