[实用新型]一种扫描式光源测试系统有效

专利信息
申请号: 201520182601.9 申请日: 2015-03-27
公开(公告)号: CN204514575U 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 金亚方;刘石神;陈要玲;蒋威;刘从峰 申请(专利权)人: 常州光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 徐琳淞
地址: 213164 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种扫描式光源测试系统,包括光学测试圆盘、驱动机构、传输机构和机架;所述光学测试圆盘、驱动机构和传输机构均设置在机架上;所述驱动机构驱动传输机构带动光学测试圆盘沿待测光源长度方向进行扫描;所述光学测试圆盘包括圆盘本体和设置于圆盘本体的圆弧面上的光电传感器。本实用新型的装置可以快速准确测试各种光源的光通量和光强分布曲线,扫描式的测试装置可以方便与工厂的生产线或者测试线进行结合,到达生产测试一体化进行。
搜索关键词: 一种 扫描 光源 测试 系统
【主权项】:
一种扫描式光源测试系统,其特征在于:包括光学测试圆盘(1)、驱动机构(2)、传输机构(3)和机架(4);所述光学测试圆盘(1)、驱动机构(2)和传输机构(3)均设置在机架(4)上;所述驱动机构(2)驱动传输机构(3)带动光学测试圆盘(1)沿待测光源长度方向进行扫描;所述光学测试圆盘(1)包括圆盘本体(11)和设置于圆盘本体(11)的圆弧面上的光电传感器(12)。
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