[实用新型]一种新型的高面积效率低压触发可控硅有效

专利信息
申请号: 201520226623.0 申请日: 2015-04-16
公开(公告)号: CN204558465U 公开(公告)日: 2015-08-12
发明(设计)人: 董树荣;郭维;钟雷;曾杰;王炜槐;俞志辉 申请(专利权)人: 江苏艾伦摩尔微电子科技有限公司
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L23/60
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215300 江苏省苏州市昆*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种新型的高面积效率低压触发可控硅,包括P型衬底、N阱、P阱、 P+注入区、N+注入区、多晶硅栅、浅槽隔离、阴极、阳极,所述N阱包括第一N阱、第二N阱,所述N+注入区包括第一N+注入区、第二N+注入区,所述P型衬底上沿横向依次设置有第一N阱、P阱、第二N阱;所述P+注入区设置在第一N阱上,所述第一N+注入区跨设在第一N阱和P阱上,所述第二N+注入区跨设在P阱和第二N阱上;所述多晶硅栅设置在P阱上;所述P+注入区接入阳极,所述多晶硅栅和第二N+注入区均接入阴极。本实用新型用P+注入区、第一N阱、P阱3、第二N+注入区实现可控硅路径,因此面积效率高。整个防护器件结构简单,稳定可靠。
搜索关键词: 一种 新型 面积 效率 低压 触发 可控硅
【主权项】:
一种新型的高面积效率低压触发可控硅,包括P型衬底、N阱、P阱,其特征在于:还包括P+注入区、N+注入区、多晶硅栅、浅槽隔离、阴极、阳极,所述N阱包括第一N阱、第二N阱,所述N+注入区包括第一N+注入区、第二N+注入区,所述P型衬底上沿横向依次设置有第一N阱、P阱、第二N阱;所述P+注入区设置在第一N阱上,所述第一N+注入区跨设在第一N阱和P阱上,所述第二N+注入区跨设在P阱和第二N阱上;所述多晶硅栅设置在P阱上;所述P+注入区接入阳极,所述多晶硅栅和第二N+注入区均接入阴极;所述P+注入区和外部结构之间通过浅槽隔离进行隔离,所述P+注入区和第一N+注入区之间通过浅槽隔离进行隔离,所述第二N+注入区和外部结构之间通过浅槽隔离进行隔离。
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