[实用新型]一种研磨盘平整度测量工具有效
申请号: | 201520262316.8 | 申请日: | 2015-04-27 |
公开(公告)号: | CN204514257U | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 宗艳民;张志海;高玉强;梁庆瑞;孙诗甫;李秀杰 | 申请(专利权)人: | 山东天岳晶体材料有限公司 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 苗峻;孙亚琳 |
地址: | 250101 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种研磨盘平整度测量工具。其包括带有可升降的升降杆(10)的升降支架(1)、卡槽(8)、平整度测量仪(4),所述升降杆(10)顶端安装有万向节轴承(9),所述卡槽(8)下部与所述万向节轴承(9)连接,所述平整度测量仪(4)设置在所述卡槽(8)内。本实用新型结构简单,操作方便,能够保证测量准确度,能有效避免研磨盘不平而导致的晶片破损,且可以实现单人操作,省时省力。 | ||
搜索关键词: | 一种 研磨 平整 测量 工具 | ||
【主权项】:
一种研磨盘平整度测量工具,其特征是:包括带有可升降的升降杆(10)的升降支架(1)、卡槽(8)、平整度测量仪(4),所述升降杆(10)顶端安装有万向节轴承(9),所述卡槽(8)下部与所述万向节轴承(9)连接,所述平整度测量仪(4)设置在所述卡槽(8)内。
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