[实用新型]SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构有效
申请号: | 201520265764.3 | 申请日: | 2015-04-29 |
公开(公告)号: | CN204549346U | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | 吕锡昌;廖建伟;赵乐平 | 申请(专利权)人: | 福建省将乐县长兴电子有限公司 |
主分类号: | B65G47/22 | 分类号: | B65G47/22;G01D11/00 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 曾捷 |
地址: | 353300 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构,包括360度循环转动的圆盘检测座,所述圆盘检测座上设置有晶振接纳座,所述圆盘检测座上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环,且该固定环与所述圆盘检测座同轴设置,所述晶振接纳座靠近所述圆盘检测座中心位置的一侧设置有供所述固定环穿过的横向通槽。由于本实用新型的晶振接纳座是通过固定环和定位螺杆等可拆卸连接在圆盘检测座上的,因此使用者可以根据使用需要随时调节晶振接纳座的数量和角度,使其能够适应不同生产的需要;本实用新型的使用更为灵活、方便,大大提高了生产效率,减少了浪费。 | ||
搜索关键词: | smd 微型 检测 圆盘 机构 | ||
【主权项】:
一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构,包括360度循环转动的圆盘检测座(1),所述圆盘检测座(1)上设置有晶振接纳座(2),所述晶振接纳座(2)上表面设置有用于接纳晶振的晶振接纳槽(3),其特征在于:所述圆盘检测座(1)上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环(4),且该固定环(4)与所述圆盘检测座(1)同轴设置,所述晶振接纳座(2)靠近所述圆盘检测座(1)中心位置的一侧设置有供所述固定环(4)穿过的横向通槽(5),所述晶振接纳座(2)靠近所述圆盘检测座(1)中心位置的一端设置有定位孔(6)和定位螺杆(7),所述圆盘检测座(1)与上述定位螺杆(7)相对应位置设置有与之配合的固定槽(8)。
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