[实用新型]一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构有效

专利信息
申请号: 201520316981.0 申请日: 2015-05-14
公开(公告)号: CN204696142U 公开(公告)日: 2015-10-07
发明(设计)人: 徐丽萍 申请(专利权)人: 上海世湖材料科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01L21/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201306 上海市浦东新区临港*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提出一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构,所述外延结构依次包括蓝宝石衬底、低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层,所述外延结构的特征在于,所述多量子阱层中InGaN层依次包括InN层和InGaN层,所述InN层是在InGaN量子阱初期周期性地通入/停止TMIn进入反应室生长而成。所述外延结构有效提高InGaN量子阱初期In组分,使得InGaN量子阱中In组分更加均匀,界面更加陡峭,从而提高LED波长均匀性和发光效率。
搜索关键词: 一种 ingan gan 量子 界面 中断 生长 外延 结构
【主权项】:
一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构,所述外延结构依次包括蓝宝石衬底、低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层,所述外延结构的特征在于,所述多量子阱层中InGaN层依次包括InN层和InGaN层,所述InN层是在InGaN量子阱初期周期性地通入/停止TMIn进入反应室生长而成。
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