[实用新型]一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构有效
申请号: | 201520316981.0 | 申请日: | 2015-05-14 |
公开(公告)号: | CN204696142U | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
发明(设计)人: | 徐丽萍 | 申请(专利权)人: | 上海世湖材料科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01L21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201306 上海市浦东新区临港*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提出一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构,所述外延结构依次包括蓝宝石衬底、低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层,所述外延结构的特征在于,所述多量子阱层中InGaN层依次包括InN层和InGaN层,所述InN层是在InGaN量子阱初期周期性地通入/停止TMIn进入反应室生长而成。所述外延结构有效提高InGaN量子阱初期In组分,使得InGaN量子阱中In组分更加均匀,界面更加陡峭,从而提高LED波长均匀性和发光效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 ingan gan 量子 界面 中断 生长 外延 结构 | ||
【主权项】:
一种InGaN/GaN量子阱界面中断生长外延结构,所述外延结构依次包括蓝宝石衬底、低温GaN成核层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层,所述外延结构的特征在于,所述多量子阱层中InGaN层依次包括InN层和InGaN层,所述InN层是在InGaN量子阱初期周期性地通入/停止TMIn进入反应室生长而成。
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