[实用新型]一种提高光探测器辐射灵敏度测试准确度的装置有效

专利信息
申请号: 201520347394.8 申请日: 2015-05-27
公开(公告)号: CN204854955U 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 郭维新;袁秀丽 申请(专利权)人: 北京滨松光子技术股份有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100070 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种提高光探测器辐射灵敏度测试准确度的装置,包括避光外壳、光输入端口、光路调制系统、测试支架、光功率计、光功率读出接口、被测探测器、被测探测器输出接口、减光系统,所述光路调制系统位于光输入端口与测试支架之间,光功率计和被测探测器放置在测试支架不同测试位置上,光功率读出接口通过信号线联接到光功率计上读出光功率输出数据,被测探测器安装在测试支架上位于光功率计后通过电源线联接到外部电源,被测探测器输出接口通过数据线联接到被测探测器输出被测探测器测试信号,减光系统可以选择安装在测试支架上,本实用新型解决光探测器的光敏面积难以准确确定,光功率值误差大,辐射灵敏度值测试准确度较差的技术问题。
搜索关键词: 一种 提高 探测器 辐射 灵敏度 测试 准确度 装置
【主权项】:
一种提高光探测器辐射灵敏度测试准确度的装置,其特征在于,由避光外壳(1)、光输入端口(2)、测试支架(3)、光路调制系统(4)、光功率计(5)、光功率读出接口(6)、被测探测器(9)、被测探测器输出接口(7)、减光系统(8)组成,所述避光外壳(1)保证测试过程中屏蔽环境光的干扰,所述光输入端口(2)引入测试用单色光,所述光路调制系统(4)位于光输入端口(2)与测试支架(3)之间,以使光束汇聚,调制被测探测器(9)的光窗形状,将光斑形状调制与被测探测器(9)一致,所述测试支架(3)上至少有两个测试位置,光功率计(5)和被测探测器(9)放置在不同测试位置上,其中光功率计(5)的测试支架可移入/移出测试光路,被测探测器(9)位置可根据灵敏区面积在光路轴上前后移动,所述光功率计(5)安装在测试支架(3)上并处于光束焦点附近,光束能量完全被光功率计测到,所述光功率读出接口(6)通过信号线连接到光功率计(5)上读出光功率输出数据,所述被测探测器(9)安装在测试支架(3)上位于光功率计(5)后并通过电源线连接到外部电源,所述被测探测器输出接口(7)输出被测探测器(9)测试信号通过数据线连接到被测探测器(9),所述减光系统(8)可以选择安装在测试支架(3)上,在光功率计(5)和被测探测器(9)之间。
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