[实用新型]一种集电环测试分选排列控制系统有效
申请号: | 201520369617.0 | 申请日: | 2015-06-02 |
公开(公告)号: | CN204685521U | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
发明(设计)人: | 金天;邹新富;倪锦喜;曹伟寨;金阳 | 申请(专利权)人: | 金华市华强电子科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/38 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 金根叶 |
地址: | 321016 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种集电环测试分选排列控制系统,属于集电环测试设备技术领域。其特征是在于它包括:视觉检测电路、耐压检测电路、压降检测电路、激光打标控制电路、伺服搬运排列控制电路、分割器驱动电路、微处理器或PLC、上位机、电源电路。本实用新型应用在集电环测试分选排列装置上,能实现对集电环的可视觉检测、耐压检测、压降检测、激光打标控制、伺服搬运排列功能。它填补专用集电环生产检测设备的空白,而且造价低;能使集电环测试分选排列装置在7至10秒时间里完成上述检测整个过程,极大地缩短了测试分选排列周期,工作效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 集电环 测试 分选 排列 控制系统 | ||
【主权项】:
一种集电环测试分选排列控制系统,其特征是在于它包括:一视觉检测电路:用于测试被测集电环的外观是否符合要求;一耐压检测电路:用于测试集电环的耐压,即进行集电环的环与环、环与外壳耐压测试,测出结果与设定合格的数值进行比较,判断其是否合格;一压降检测电路:集电环的压降测试,测试结果与设定合格的压降数值进行比较,判断其是否合格;一激光打标控制电路:用于对测试合格的集电环进行激光打标操作控制;一伺服搬运排列控制电路:对于打标合格后的产品,进行排列搬运控制,对于不合格的集电环,移至不合格区域控制;一分割器驱动电路:对集电环进行测试工位驱动控制,每次转45度角;一微处理器或PLC:对上述分割器驱动电路、视觉检测电路、耐压检测电路、压降检测电路、激光打标控制电路、伺服搬运排列控制电路进行数据采集、分析、计算、处理,是软件控制的核心部分;一上位机,其通过第一通讯模块与微处理器连接,用于对微处理器的参数进行界面显示、设置和查看;一电源电路,用于为上述各模块提供所需的直流电。
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