[实用新型]颗粒物测量装置有效
申请号: | 201520389873.6 | 申请日: | 2015-06-08 |
公开(公告)号: | CN204649582U | 公开(公告)日: | 2015-09-16 |
发明(设计)人: | 朱慧珑 | 申请(专利权)人: | 朱慧珑 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N1/22 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;刘锋 |
地址: | 美国纽约州*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本实用新型公开了一种颗粒物测量装置,该颗粒物测量装置在环境大气运动而产生气流,包括:彼此相对的第一贮存室和第二贮存室,用于收集和排出第一平均粒径的颗粒物;测量室,用于收集第二平均粒径的颗粒物;位于该测量室中的光源和光电探测器;第一气流通道,将外部空间与第一贮存室连通;第二气流通道,将外部空间与第二贮存室连通;第三气流通道,将第一气流通道的末端与测量室连通,并且第三气流通道与第一气流通道的延伸方向不同;第四气流通道,将第二气流通道的末端与测量室连通,并且第四气流通道与第二气流通道的延伸方向不同。该颗粒物测量装置可以减小体积并且提高小颗粒物的分辨率和测量精度。 | ||
搜索关键词: | 颗粒 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种颗粒物测量装置,其特征在于,所述颗粒物测量装置在环境大气运动而产生气流,包括:彼此相对的第一贮存室和第二贮存室,用于收集和排出第一平均粒径的颗粒物;测量室,用于收集第二平均粒径的颗粒物,其中第二平均粒径小于第一平均粒径;位于所述测量室中的光源和光电探测器,所述光源和所述光电探测器彼此成夹角以检测由第二平均粒径的颗粒物产生的散射光;第一气流通道,将外部空间与第一贮存室连通;第二气流通道,将外部空间与第二贮存室连通;第三气流通道,将第一气流通道的末端与测量室连通,并且第三气流通道与第一气流通道的延伸方向不同;第四气流通道,将第二气流通道的末端与测量室连通,并且第四气流通道与第二气流通道的延伸方向不同。
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