[实用新型]位敏测量装置

摘要

本实用新型涉及一种位敏测量装置，用于探测光束的位置，包括成像屏组件和相机，相机设于成像屏组件的一端，成像屏组件远离相机的一端设有成像屏，成像屏包括成像挡板和滤光膜，滤光膜设于成像挡板靠近相机的一侧，成像挡板对可见光具有透光作用，滤光膜对小于光束所在波长的可见光有吸收作用，且相机与成像屏相对而设。上述位敏测量装置，光束照射在成像屏上形成光斑，光斑经过滤光膜后，相机获取光斑的图像，通过图像处理及测量技术计算得到光束的实际二维物理位置。由于位敏测量装置采用相机直接获取光斑的图像，从而使位敏测量装置结构简单；由于光斑经过滤光膜滤光，使得相机得到更加精确的光斑图像，从而提高位敏测量装置的测量精度。

主权项

一种位敏测量装置，其特征在于，用于探测光束的位置，包括成像屏组件和相机，所述相机设于所述成像屏组件的一端，所述成像屏组件远离所述相机的一端设有成像屏，所述成像屏包括成像挡板和滤光膜，所述滤光膜设于所述成像挡板靠近所述相机的一侧，所述成像挡板对可见光具有透光作用，所述滤光膜对小于所述光束所在波长的可见光有吸收作用，且所述相机与所述成像屏相对而设。