[实用新型]一种磁性微位移平台式角反射镜激光干涉仪有效

专利信息
申请号: 201520454074.2 申请日: 2015-06-29
公开(公告)号: CN204705318U 公开(公告)日: 2015-10-14
发明(设计)人: 李享梅;许诚昕;张白 申请(专利权)人: 成都信息工程大学
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 韩洋;林辉轮
地址: 610225 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及一种精密测试技术及仪器领域,特别涉及一种磁性微位移平台式角反射镜激光干涉仪,包括有激光源、微动角反射镜、干涉测量光电探测器、移动角反射镜、分光镜组和磁性微位移平台,所述微动角反射镜设置在所述磁性微位移平台上,还包括有反射测量光电探测器,激光束经所述移动角反射镜反射至所述分光镜组后还形成有反射激光束,所述反射激光束射向所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪,由于反射测量光电探测器可以测量移动角反射镜反射激光束的强度,根据反射激光束的强度确定激光干涉光束的干涉状态,如此实现抗环境干扰的目的。
搜索关键词: 一种 磁性 位移 平台 反射 激光 干涉仪
【主权项】:
一种磁性微位移平台式角反射镜激光干涉仪,包括有激光源、微动角反射镜、干涉测量光电探测器、移动角反射镜、分光镜组和磁性微位移平台,所述微动角反射镜设置在所述磁性微位移平台上,所述激光源射出的激光束经所述分光镜组后分为第一激光束和第二激光束,所述第一激光束射向所述微动角反射镜,经所述微动角反射镜反射后再次射向所述分光镜组,再经分光镜组后射向所述干涉测量光电探测器,所述第二激光束射向所述移动角反射镜,经所述移动角反射镜反射后再次射向所述分光镜组,经分光镜组后射向所述干涉测量光电探测器,所述第一激光束与第二激光束在射向所述干涉测量光电探测器时发生干涉,其特征在于,所述磁性微位移平台式角反射镜激光干涉仪还包括有反射测量光电探测器,所述第二激光束在由所述移动角反射镜射向所述分光镜组后还形成有反射激光束,所述反射激光束射向所述反射测量光电探测器;所述磁性微位移平台,包括有支撑平台和设置在所述支撑平台上的位移装置,所述支撑平台上设置有第一位移件,所述第一位移件与所述位移装置连接,所述位移装置带动所述第一位移件沿所述支撑平台运动,所述第一位移件具有一相对于其位移方向倾斜的斜面,所述第一位移件的斜面上滑动设置有第二位移件,所述第一位移件与第二位移件之间贴紧配合,所述支撑平台上还设置有约束装置,所述约束装置限制所述第二位移件沿所述第一位移件位移方向上的运动,使得当第一位移件被所述位移装置带动而产生位移时,所述第二位移件被所述第一位移件带动而产生位移,所述第二位移件的位移方向与所述第一位移件的位移方向相垂直,所述第一位移件的斜面与其位移方向的夹角为A度,0<A<45,所述第一位移件与所述支撑平台之间还设置有具有磁性的磁性件,所述第二位移件具有磁性,所述第二位移件与所述磁性件为异性相吸状态,所述微动角反射镜设置在所述第二位移件上,随第二位移件运动。
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