[实用新型]集成电路功能测试装置有效
| 申请号： | 201520459183.3 | 申请日： | 2015-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN204903574U | 公开（公告）日： | 2015-12-23 |
| 发明（设计）人： | 徐子昆 | 申请（专利权）人： | 北京泰码思测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100098 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路功能测试装置，包括壳体，所述壳体上安装有显示屏和控制按钮，所述的显示屏和控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接，所述微控制器分别与A/D转换芯片、地址译码器、总线电路连接；所述壳体上设有电源插口，所述电源插口与所述总线电路电连接，所述电源插口上插接有移动电源；本实用新型的优点在于：操作简单、测试准确、效率高，通过插槽进行插接实现供电，当需要卸下电源时，拔下来即可，使用方便，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 功能 测试 装置 | ||
【主权项】：
集成电路功能测试装置，其特征在于：包括壳体，所述壳体上安装有显示屏和控制按钮，所述的显示屏和控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接，所述微控制器分别与A/D转换芯片、地址译码器、总线电路连接；所述壳体上设有电源插口，所述电源插口与所述总线电路电连接，所述电源插口上插接有移动电源。
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