[实用新型]一种带自校正功能的超声波测厚仪的探头有效

专利信息
申请号: 201520501354.4 申请日: 2015-07-13
公开(公告)号: CN204730815U 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 陈都;陈隆君;胡再国 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B17/02 分类号: G01B17/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610064 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种带自校正功能的超声波测厚仪的探头,涉及一种超声波测厚仪探头。现有的超声波测厚仪不具有自校正功能,针对现有技术的不足,技术方案是:一种带自校正功能的超声波测厚仪的探头,其特征在于,由超声换能器和标准块组成,所述超声换能器的表面固定一块厚度为1.00-10.0毫米、材料与被测工件相同金属标准块。标准块的边缘向上凸出,凸出部分有内螺纹,与超声换能器边缘的外螺纹通过螺纹连接。有益效果是:不经过人工手动操作就消除由于温度和电路漂移造成的测量结果偏差,从而实现自校正的功能。
搜索关键词: 一种 校正 功能 超声波 测厚仪 探头
【主权项】:
一种带自校正功能的超声波测厚仪的探头,其特征在于,由超声换能器和标准块组成,所述超声换能器的表面固定一块厚度为1.00‑10.0毫米、材料与被测工件相同的金属标准块。
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