[实用新型]一种提高二硫化钼薄膜生长均匀性的单独硫源温控系统有效

专利信息
申请号: 201520511343.4 申请日: 2015-07-15
公开(公告)号: CN204779804U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 兰飞飞;张嵩;陈建丽;王再恩;齐成军;程红娟;徐永宽;郝建民;赖占平 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C23C16/52 分类号: C23C16/52;C23C16/30
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种提高二硫化钼薄膜生长均匀性的单独硫源温控系统。该系统包括料瓶,料瓶中装有硫粉,在料瓶的外围缠绕伴热带,料瓶内设有氩气输入管和氩气输出管,并将氩气输入管和氩气输出管与管式炉的氩气输入管连通。通过采用硫源单独温控技术实现对二硫化钼薄膜生长过程中硫源温度、蒸汽压的精确控制,避免传统化学气相沉积过程中硫的提前蒸发导致的三氧化钼的提前硫化,提高了二硫化钼薄膜生长过程的可控性,从而提高了二硫化钼薄膜的均匀性。
搜索关键词: 一种 提高 二硫化钼 薄膜 生长 均匀 单独 温控 系统
【主权项】:
一种提高二硫化钼薄膜生长均匀性的单独硫源温控系统,其特征在于,该系统包括料瓶(1),料瓶(1)中装有硫粉(4),在料瓶(1)的外围缠绕伴热带(2),料瓶(1)内设有氩气输入管(3)和氩气输出管(5),并将氩气输入管(3)和氩气输出管(5)与管式炉(8)的氩气输入管(9)连通。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十六研究所,未经中国电子科技集团公司第四十六研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520511343.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top