[实用新型]测试探针的同轴组件有效
| 申请号： | 201520536969.0 | 申请日： | 2015-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN204789658U | 公开（公告）日： | 2015-11-18 |
| 发明（设计）人： | 张宏才;李成功 | 申请（专利权）人： | 通普生物科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;A61B5/05 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 席勇;沈园园 |
| 地址： | 100045 北京市西城*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试探针的同轴组件，其包括：环形外圈部，其由金属制成并具有轴向延伸的腔室；测试探针部，其插入并穿过所述腔室；以及中空的环形绝缘圈，其沿着所述腔室的内壁布置在所述环形外圏部的腔室内，当所述测试探针部插入到环形外圈部的时候，该环形绝缘圈位于所述测试探针部和所述环形外圈部之间，从而同时产生两个互相绝缘的测试接触部，其中，所述测试探针部构成第一个测试接触部，所述环形外圈部构成第二个测试接触部。根据本实用新型，通过设置同轴的环形外圈部和测试探针部，并且在二者之间设置了绝缘件，使得探针具有了两个互相绝缘的接触点，提高了电信号的检测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 同轴 组件 | ||
【主权项】：
一种测试探针的同轴组件，其特征在于，包括：环形外圈部，其由金属制成并具有轴向延伸的腔室；测试探针部，其由金属制成插入并穿过所述腔室；以及中空的环形绝缘圈，其沿着所述腔室的内壁布置在所述环形外圈部的腔室内，当所述测试探针部插入到环形外圈部的时候，该环形绝缘圈位于所述测试探针部和所述环形外圈部之间，从而同时产生两个互相绝缘的测试接触部，其中，所述测试探针部构成第一个测试接触部，所述环形外圈部构成第二个测试接触部。
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