[实用新型]一种功率MOSFET器件栅电极结构有效
申请号: | 201520541311.9 | 申请日: | 2015-07-23 |
公开(公告)号: | CN204760387U | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 陆怀谷 | 申请(专利权)人: | 深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 冯子玲 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种功率MOSFET器件栅电极结构,所述功率MOSFET器件栅电极结构具有长条状多晶,该长条状多晶将所述功率MOSFET器件栅电极引线区域和该功率MOSFET器件栅电极的打线区域连接在一起,所述长条状多晶的电阻作为栅极电阻。所述长条状多晶与所述功率MOSFET器件栅极多晶同时工艺。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 mosfet 器件 电极 结构 | ||
【主权项】:
一种功率MOSFET器件栅电极结构,其特征在于,所述功率MOSFET器件栅电极结构具有长条状多晶,该长条状多晶将所述功率MOSFET器件栅电极引线区域和该功率MOSFET器件栅电极的打线区域连接在一起,所述长条状多晶的电阻作为栅极电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司,未经深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520541311.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高压半导体器件
- 下一篇:一种带场板的高功率高耐压半导体器件
- 同类专利
- 专利分类