[实用新型]一种检具测量结构总成有效

专利信息
申请号: 201520561454.6 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN204881396U 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 贾治域;李松;代彤;潘强;吴锦 申请(专利权)人: 北京汽车股份有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;安利霞
地址: 101300 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供了一种检具测量结构总成,该检具测量结构总成包括:底座,位于底座上、平行设置的两个滑轨结构,两端分别与两个滑轨结构连接的测量卡板,位于两个滑轨结构中间的检具本体,用于将待测零件与检具本体固定的零件压紧器;检具本体位于测量卡板下方,检具本体与测量卡板之间形成容置待测零件的空间;滑轨结构包括轨道与滑块;测量卡板与滑块连接,并随滑块在轨道上滑动。本实用新型提供的检具测量结构总成,增加了滑轨结构,减少了测量卡板数量,实现了检具结构的优化设计,在满足测量要求的前提下降低了检具设计成本,优化检具测量结构及测量操作过程。
搜索关键词: 一种 测量 结构 总成
【主权项】:
一种检具测量结构总成,其特征在于,包括:底座(1),位于所述底座(1)上、平行设置的两个滑轨结构(2),两端分别与两个滑轨结构(2)连接的测量卡板(3),位于两个滑轨结构(2)中间的检具本体(4),用于将待测零件(12)与所述检具本体(4)固定的零件压紧器(5);所述检具本体(4)位于所述测量卡板(3)下方,所述检具本体(4)与测量卡板(3)之间形成容置待测零件(12)的空间;所述滑轨结构(2)包括轨道(6)与滑块(7);所述测量卡板(3)与所述滑块(7)连接,并随所述滑块(7)在所述轨道(6)上滑动。
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