[实用新型]一种发光二极管失效分析解剖装置有效
| 申请号： | 201520562302.8 | 申请日： | 2015-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN204882806U | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 赵东阳;林荣锋;王新华 | 申请（专利权）人： | 厦门乾照光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66;H01L33/00 |
| 代理公司： | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人： | 廖吉保;唐绍烈 |
| 地址： | 361000 福建省厦门市火炬*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种发光二极管失效分析解剖装置，包括操作平台、调温加热台及体视显微镜；操作平台设置加热板，该加热板与调温加热台电连接，加热板加热发光二极管表面封装胶体；操作平台置于体视显微镜的视场范围中。本实用新型可以减少损伤LED芯片，提高失效异常分析的准确性，同时提高LED芯片解剖效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 失效 分析 解剖 装置 | ||
【主权项】：
一种发光二极管失效分析解剖装置，其特征在于，包括操作平台、调温加热台及体视显微镜；操作平台设置加热板，该加热板与调温加热台电连接，加热板加热发光二极管表面封装胶体；操作平台置于体视显微镜的视场范围中。
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