[实用新型]用于砂轮表面形貌的检测系统有效
| 申请号： | 201520614001.5 | 申请日： | 2015-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN204944452U | 公开（公告）日： | 2016-01-06 |
| 发明（设计）人： | 余卿;崔长彩;易定容;章明;孔令华;叶瑞芳;范伟;王寅;李煌;张勇贞 | 申请（专利权）人： | 华侨大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 泉州市文华专利代理有限公司 35205 | 代理人： | 陈智海 |
| 地址： | 362000 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于砂轮表面形貌的检测系统，包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本实用新型将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 砂轮 表面 形貌 检测 系统 | ||
【主权项】：
用于砂轮表面形貌的检测系统，其特征在于：包括沿光源发出光线的光路上依次设置的准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。
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