[实用新型]半导体芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 201520620396.X 申请日: 2015-08-18
公开(公告)号: CN204991681U 公开(公告)日: 2016-01-20
发明(设计)人: 王之奇;刘湘龙;徐远灏 申请(专利权)人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
主分类号: H01L23/12 分类号: H01L23/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215026 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了半导体芯片封装结构,包括:半导体芯片,具有功能区域;保护基板,位于所述半导体芯片的一侧并覆盖所述功能区域;支撑单元,位于所述保护基板与所述半导体芯片之间,所述支撑单元包围所述功能区域;所述支撑单元包括外支撑件以及位于所述外支撑件内侧的内支撑件,所述内支撑件与所述半导体芯片以及保护基板之间形成收容腔,所述内支撑件与所述外支撑件、半导体芯片以及保护基板之间形成空腔;所述内支撑件上设置至少一个第一透气结构,使所述收容腔与所述空腔连通,有效释放了水汽瞬间气化膨胀产生的压力,消除了支撑单元开裂的情况。
搜索关键词: 半导体 芯片 封装 结构
【主权项】:
一种半导体芯片封装结构,包括:半导体芯片,具有功能区域;保护基板,位于所述半导体芯片的一侧并覆盖所述功能区域;支撑单元,位于所述保护基板与所述半导体芯片之间,所述支撑单元包围所述功能区域;其特征在于:所述支撑单元包括外支撑件以及位于所述外支撑件内侧的内支撑件,所述内支撑件与所述半导体芯片以及保护基板之间形成收容腔,所述内支撑件与所述外支撑件、半导体芯片以及保护基板之间形成空腔;所述内支撑件上设置至少一个第一透气结构,使所述收容腔与所述空腔连通。
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