[实用新型]一种改善晶圆表面薄膜形貌的斜坡陶瓷环有效

专利信息
申请号: 201520646274.8 申请日: 2015-08-25
公开(公告)号: CN204927234U 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: 刘忆军;杨艳;戚艳丽;宁建平 申请(专利权)人: 沈阳拓荆科技有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01J37/20
代理公司: 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙) 21229 代理人: 甄玉荃;霍光旭
地址: 110179 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型提供一种改善晶圆表面薄膜形貌的斜坡陶瓷环,位于载物台上,陶瓷环上设有承载待处理晶圆的凹槽,所述凹槽的高度边相对于水平面不垂直,角度可以在90°到180°之间变化。在高温工艺过程中,当气体流经凹槽高度边时,倾斜的高度边可以减小对气体流动的阻碍作用,从而改善等离子体在此处的分布,使晶圆边缘的薄膜沉积更加均匀。
搜索关键词: 一种 改善 表面 薄膜 形貌 斜坡 陶瓷
【主权项】:
一种改善晶圆表面薄膜形貌的斜坡陶瓷环,其特征在于,所述陶瓷环位于载物台上,陶瓷环上设有承载待处理晶圆的凹槽,所述凹槽的高度边相对于水平面不垂直。
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