[实用新型]用于通风设备杂质检测的测试装置有效

专利信息
申请号: 201520664790.3 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN204923353U 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: 王宇;李金凤;沈小旭 申请(专利权)人: 成都欧林生物科技股份有限公司
主分类号: F24F11/02 分类号: F24F11/02;G01N33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及用于通风设备杂质检测的测试装置,包括检测口、检测盖,检测口外壁上设置有环形凸块Ⅰ,环形凸块Ⅰ向内凹陷形成有与密封圈配合的环形凹槽Ⅰ,环形凹槽Ⅰ底部均匀设置有多个环形凹槽Ⅲ,所述检测盖的侧壁上设置有与环形凸块Ⅰ配合的环形凸块Ⅱ,环形凸块Ⅱ向内凹陷形成环形凹槽Ⅱ,环形凹槽Ⅱ内均匀设置有与环形凹槽Ⅲ配合的环形凹槽Ⅳ,密封圈的一侧均匀设置有与环形凹槽Ⅲ配合的凸环Ⅰ,另一侧设置有与环形凹槽Ⅳ配合的凸环Ⅱ。本实用新型通过设置内部设有环形凹槽Ⅲ的环形凸块Ⅰ、内部设有环形凹槽Ⅳ的环形凸块Ⅱ,环形凹槽Ⅲ、环形凹槽Ⅳ与密封圈配合使用,提高了测试装置的密封性,克服了现有测试装置密封性不好的问题。
搜索关键词: 用于 通风设备 杂质 检测 测试 装置
【主权项】:
用于通风设备杂质检测的测试装置,包括检测口(1)、与检测口(1)配合的检测盖(2),检测盖(2)的内壁设置有内牙螺纹,检测口(1)的外壁设置有与内牙螺纹配合的外牙螺纹,其特征在于,所述与检测口(1)外壁上外牙螺纹的下端设置有环形凸块Ⅰ(11),环形凸块Ⅰ(11)向内凹陷形成有与密封圈(3)配合的环形凹槽Ⅰ(12),环形凹槽Ⅰ(12)底部均匀设置有多个环形凹槽Ⅲ(13),所述检测盖(2)的侧壁上设置有与环形凸块Ⅰ(11)配合的环形凸块Ⅱ(21),环形凸块Ⅱ(21)向内凹陷形成环形凹槽Ⅱ(22),环形凹槽Ⅱ(22)内均匀设置有与环形凹槽Ⅲ(13)配合的环形凹槽Ⅳ(23),密封圈(3)的一侧均匀设置有与环形凹槽Ⅲ(13)配合的凸环Ⅰ(31),另一侧设置有与环形凹槽Ⅳ(23)配合的凸环Ⅱ(32)。
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