[实用新型]一种非接触的平面粗糙度检测装置有效

专利信息
申请号: 201520666958.4 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN205090951U 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 李珣;景军锋;张莉;张蕾;洪良;刘秀平 申请(专利权)人: 西安工程大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 罗笛
地址: 710048 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种非接触的平面粗糙度检测装置,包括光学平台,光学平台上设置有水平调节模块、待测件调节模块、参考件调节模块。本实用新型的一种非接触的平面粗糙度检测装置,结构简单,检测原理明确,易于调试。
搜索关键词: 一种 接触 平面 粗糙 检测 装置
【主权项】:
一种非接触的平面粗糙度检测装置,其特征在于,包括光学平台(15),光学平台(15)上设置有水平调节模块、待测件调节模块、参考件调节模块;其中,所述水平调节模块包括高度调节底座(4),高度调节底座(4)上设置有水平调整基座(2),水平调整基座(2)上安装有双光轴自准仪(1);所述高度调节底座(4)固接在所述光学平台(15)上;所述待测件调节模块包括电动平移台a(12),电动平移台a(12)上通过线性滑轨设置有手动角位台(14),手动角位台(14)上安装有待测件安装座(13),所述电动平移台a(12)固接在所述光学平台(15)上;所述参考件调节模块包括电动平移台b(5),电动平移台b(5)上通过线性滑轨设置有手动平移台a(6),手动平移台a(6)上依次设置有手动平移台b(7)、调高支架(8)、参考件安装座(9),所述电动平移台b(5)固接在所述光学平台(15)上。
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