[实用新型]一种测试读卡器有效
申请号: | 201520670530.7 | 申请日: | 2015-09-01 |
公开(公告)号: | CN205594130U | 公开(公告)日: | 2016-09-21 |
发明(设计)人: | 王丰 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种测试读卡器,包括:嵌入式处理器,用于根据电压反馈模块反馈的电压值控制可控电压电源模块的输出电压;向非接触读卡器芯片发送数据;可控电压电源模块,用于将电压输出给电压反馈模块和功率放大模块;电压反馈模块,用于将接收的电压转换为数字电压,发送给嵌入式处理器;非接触读卡器芯片,接收嵌入式处理器发送的数据,转换为非接触发射信号,发送给功率放大模块;功率放大模块,用于将非接触读卡器芯片的发射信号电压放大到其供电电压。采用本实用新型所述的测试读卡器实现对非接触智能卡测试读卡器发射场强的自动控制。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 读卡器 | ||
【主权项】:
一种测试读卡器,其特征在于,包括:嵌入式处理器,与电压反馈模块、电压电源模块及非接触读卡器芯片相连,用于根据电压反馈模块反馈的电压值控制可控电压电源模块的输出电压;向非接触读卡器芯片发送数据;可控电压电源模块,用于将电压输出给电压反馈模块和功率放大模块;电压反馈模块,用于将接收的电压转换为数字电压,发送给嵌入式处理器;非接触读卡器芯片,接收嵌入式处理器发送的数据,转换为非接触发射信号,发送给功率放大模块;功率放大模块,用于将非接触读卡器芯片的发射信号电压放大到其供电电压。
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