[实用新型]非线性薄膜材料的光学非线性测量装置有效

专利信息
申请号: 201520680761.6 申请日: 2015-09-06
公开(公告)号: CN204903381U 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 张霖;任寰;姜宏振;杨一;陈波;马骅;石振东;原泉;李东;刘勇;刘旭;马玉荣;杨晓瑜;柴立群 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 杨保刚;赵宇
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种非线性薄膜材料的光学非线性测量装置,属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中的非线性光子学材料的光学非线性测量装置,其目的在于提供一种非线性薄膜材料的光学非线性测量装置。其包括激光器、泵浦光路、探测光路、测量光路和计算机处理系统;入射激光经第一分束器后形成泵浦光、探测光,探测光在待测样品上产生反射形成反射激光;反射激光经第二分束器后形成的测量光分别经开孔测量光路、闭孔测量光路后通过衰减器入射至同一CCD探测器并在CCD探测器上得到一系列测量光斑和监测光斑。本实用新型装置结构简单、测量方便,可广泛应用于非线性薄膜材料特别是非透明薄膜材料的光学非线性测量。
搜索关键词: 非线性 薄膜 材料 光学 测量 装置
【主权项】:
一种非线性薄膜材料的光学非线性测量装置,其特征在于:包括激光器(1)、泵浦光路、探测光路、测量光路和计算机处理系统(18);所述激光器(1)产生的入射激光入射至第一分束器(2)后并由第一分束器(2)分成泵浦光和探测光;所述泵浦光经泵浦光路入射至待测样品(8),所述探测光经探测光路入射至待测样品(8),所述探测光在待测样品(8)上产生反射形成反射激光,反射激光入射至第二分束器(13)后并由第二分束器(13)分成透射测量光和反射测量光;所述透射测量光、反射测量光分别经开孔测量光路、闭孔测量光路后通过衰减器(16)入射至同一CCD探测器(17)并在CCD探测器(17)上得到一系列开孔测量光斑和闭孔测量光斑;所述CCD探测器(17)与计算机处理系统(18)电连接,所述CCD探测器(17)上得到的测量光斑和监测光斑传输至计算机处理系统(18)。
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