[实用新型]一种二次元测量中的测试治具有效

专利信息
申请号: 201520732139.5 申请日: 2015-09-21
公开(公告)号: CN205027353U 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 易小雷;邢海;周倩 申请(专利权)人: 上海景奕电子科技有限公司
主分类号: G01C11/36 分类号: G01C11/36
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 叶敏华
地址: 201108 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种二次元测量中的测试治具,包括固定框架、辊筒、胶带和基准件,所述辊筒为两个,两个辊筒分别通过轴座对称设于固定框架的两侧边上,所述胶带的两端分别缠绕于辊筒上,胶带的胶面在固定框架的两侧边之间展开并朝上,所述基准件通过滑槽设于固定框架的两侧边上并与展开的胶带平行,待测量产品以基准件为同一边粘于展开的胶带上,转动辊筒来替换胶带的胶面。与现有技术相比,本实用新型使得二次元测量中多个产品位置以同一基准固定,操作方便简单,提高测量效率与精准度。
搜索关键词: 一种 二次元 测量 中的 测试
【主权项】:
一种二次元测量中的测试治具,其特征在于,包括固定框架(1)、辊筒(2)、胶带(3)和基准件(4),所述辊筒(2)为两个,两个辊筒(2)分别通过轴座(5)对称设于固定框架(1)的两侧边上,所述胶带(3)的两端分别缠绕于辊筒(2)上,胶带(3)的胶面在固定框架(1)的两侧边之间展开并朝上,所述基准件(4)通过滑槽(6)设于固定框架(1)的两侧边上并与展开的胶带(3)平行,待测量产品以基准件(4)为同一边粘于展开的胶带(3)上,转动辊筒(2)来替换胶带(3)的胶面。
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