[实用新型]一种离轴抛物面离轴量的测量装置有效

专利信息
申请号: 201520736224.9 申请日: 2015-09-22
公开(公告)号: CN205120039U 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 于清华;孙胜利 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 专利公开一种离轴抛物面离轴量的测量装置,包括会聚光干涉仪、平行光干涉仪、自准平面镜、法兰盘和对可见波段高吸收的标记,利用光直线传播的原理,将离轴抛物面镜的通光孔径几何中心和焦点,投影到自准平面镜上,并分别标记,通过测量标记间距,测量离轴抛物面镜的离轴量。本专利的优点在于:原理简单、易操作,解决了离轴抛物面离轴量的测量问题。
搜索关键词: 一种 抛物面 离轴量 测量 装置
【主权项】:
一种离轴抛物面离轴量的测量装置,包括会聚光干涉仪、平行光干涉仪、自准平面镜、法兰盘和对可见波段高吸收的标记,其特征在于:所述的会聚光干涉仪发出一束汇聚光束,光束汇聚点与抛物面焦点重合,光束经离轴抛物面反射,入射自准平面镜,经自准平面镜反射原路返回会聚光干涉仪;所述法兰盘中心与抛物面焦点重合,且法兰盘盘面法线与自准平面镜法线平行;所述的平行光干涉仪放置在法兰盘非自准直平面镜的一侧,平行光干涉仪出射光束方向与自准平面镜法线平行,且光束覆盖法兰盘;所述的对可见波段高吸收的标记在三坐标精密测量工具监测下,被制作在离轴抛物面镜通光孔径几何中心。
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