[实用新型]一种通用集成电路测试装置有效
| 申请号： | 201520790007.8 | 申请日： | 2015-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN205103370U | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 朱旭;姜蕾;黄彩明 | 申请（专利权）人： | 上海浦壹电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H05K7/20 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 冯子玲 |
| 地址： | 201507 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种通用集成电路测试装置，包括测试平台，测试平台上方设置有加热装置和数个小型散热装置，测试平台下方设置有冷却装置，所述测试平台与温度检测装置连接，所述加热装置与加热控制装置连接，所述小型散热装置和冷却装置与冷却控制装置连接，温度检测装置与加热控制装置和冷却控制装置连接，冷却控制装置与加热控制装置之间连接有自动控制开关装置，冷却控制装置、加热控制装置和自动控制开关装置与输入输出控制装置连接。本实用新型所述的一种通用集成电路测试装置的优点在于，降温时间短可以完全自动根据温度调整开关以及具有温度显示器和声控提醒装置，更具人性化，更加节约人力成本的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种通用集成电路测试装置，包括测试平台（1），其特征在于：测试平台（1）上方设置有加热装置（2）和数个散热装置（3），测试平台（1）下方设置有冷却装置（9），所述测试平台（1）与温度检测装置（4）连接，所述加热装置（2）与加热控制装置（5）连接，所述散热装置（3）和冷却装置（9）与冷却控制装置（7）连接，温度检测装置（4）与加热控制装置（5）和冷却控制装置（7）连接，冷却控制装置（7）与加热控制装置（5）之间连接有自动控制开关装置（6），冷却控制装置（7）、加热控制装置（5）和自动控制开关装置（6）与输入输出控制装置（8）连接。
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