[实用新型]直拉法生长低位错单晶的热场结构有效

专利信息
申请号: 201520864558.4 申请日: 2015-11-03
公开(公告)号: CN205275775U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 黎建明;冯德伸;高欢欢;张路;王霈文 申请(专利权)人: 有研光电新材料有限责任公司
主分类号: C30B15/18 分类号: C30B15/18
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘秀青;熊国裕
地址: 065001 *** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种直拉法生长低位错单晶的热场结构。该热场结构包括沿单晶炉炉壁设置的主加热器和设置在单晶炉炉底的底加热器。主加热器为上薄下厚的渐变型直筒结构。采用该热场结构生长低位错单晶的工艺至少包括:(1)选择无位错单晶作为籽晶,在晶体生长过程中,升温化料达到目标温度;(2)将熔体稳定一段时间热场稳定后,寻找引晶温度;在该引晶温度点引晶1小时后直接放肩;(3)经自动控制等径生长、收尾、冷却至室温,完成低位错晶体生长。采用本实用新型的热场结构能够降低热场中的温度梯度、增大低温度梯度区域;结合低温度梯度热场中晶体生长工艺,能够加长低位错晶体的有效长度。
搜索关键词: 直拉法 生长 低位 错单晶 结构
【主权项】:
一种直拉法生长低位错单晶的热场结构,其特征在于,该热场结构包括沿单晶炉炉壁设置的主加热器和设置在单晶炉炉底的底加热器;所述主加热器为上薄下厚的渐变型直筒结构;所述主加热器自其高度的1/2处向下为一恒定厚度,向上依次减薄;上沿处最薄,其厚度为恒定厚度的2/3‑5/6。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于有研光电新材料有限责任公司,未经有研光电新材料有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520864558.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top