[实用新型]一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜有效

专利信息
申请号: 201520956709.9 申请日: 2015-11-26
公开(公告)号: CN205122532U 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 唐紫超;刘志凌;谢华;张世宇 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: H01J37/26 分类号: H01J37/26
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 马驰
地址: 116023 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜,在粒子成像透镜的基础上,在其前端添加一组等间距的电极片。这些电极片与成像静电透镜入口处的第一片电极片用导电高压细线相接在一起。工作时,在成像电极片上加载脉冲电压,就可以实现离子再参考。
搜索关键词: 一种 用于 粒子 成像 脉冲 参考 透镜
【主权项】:
一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜,包括粒子成像透镜,其特征在于:在粒子成像透镜的基础上,于粒子成像透镜的粒子入口前端添加一组等间距平行排列的中部带通孔的平板状电极片;这些电极片与成像静电透镜入口处的第一片电极片用导线相连接在一起。
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