[实用新型]磁头耐高压测试装置有效
申请号: | 201520969590.9 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN205157722U | 公开(公告)日: | 2016-04-13 |
发明(设计)人: | 江小亮;李敏凯;杨敏 | 申请(专利权)人: | 深圳长城开发科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人: | 周惠来;刘耿 |
地址: | 518031 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种磁头耐高压测试装置,包括工装,用于承载待测试的磁头;及装设在该工装上的测试单元,其包括:两个接触电极,用于驱使这两个接触电极横向位移的接触电极驱动,两个接触针以及用于驱使这两个接触针竖直位移的接触针驱动;其中,这两个接触电极能够受驱电性连接待测试的磁头上的两个引线以使整个电路通路,这两个接触探针能够受驱电性连接待测试的磁头上的两个触点以使高压测试仪能够进行通断路分析。本实用新型能够提高测试效率,并且安全性好。 | ||
搜索关键词: | 磁头 高压 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种磁头耐高压测试装置,其特征在于,包括工装,用于承载待测试的磁头;及装设在该工装上的测试单元,其包括:两个接触电极,用于驱使这两个接触电极横向位移的接触电极驱动,两个接触针以及用于驱使这两个接触针竖直位移的接触针驱动;其中,这两个接触电极能够受驱电性连接待测试的磁头上的两个引线以使整个电路通路,这两个接触探针能够受驱电性连接待测试的磁头上的两个触点以使高压测试仪能够进行通断路分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳长城开发科技股份有限公司,未经深圳长城开发科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520969590.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种CCD检测装置
- 下一篇:一种耐电压测试器的连接检测装置及耐电压测试系统