[实用新型]一种具有槽型体接触结构的IGBT有效
申请号: | 201520987923.0 | 申请日: | 2015-12-03 |
公开(公告)号: | CN205264710U | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 陈利;徐承福;高耿辉;姜帆 | 申请(专利权)人: | 厦门元顺微电子技术有限公司;大连连顺电子有限公司;友顺科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/417 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361008 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开一种具有槽型体接触结构的IGBT,包括:N-型基区;位于所述N-型基区上表面内两侧的两个P型基区;位于所述P型基区上表面内中部的两个N+集电区;位于所述N-型基区上表面以及所述P型基区和N+集电区部分上表面的栅氧化层;位于所述栅氧化层上表面的多晶栅;位于所述N-型基区下表面的背P+发射区;位于所述P型基区上表面内以及所述N+集电区上表面的发射极。本实用新型通过改变雪崩电流路径,避免寄生BJT的开启,从而使雪崩能量大幅增加。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 槽型体 接触 结构 igbt | ||
【主权项】:
一种具有槽型体接触结构的IGBT,其特征在于,包括:N‑型基区(1);位于所述N‑型基区(1)上表面内两侧的两个P型基区(2);位于所述P型基区(2)上表面内中部的两个N+集电区(4);位于所述N‑型基区(1)上表面以及所述P型基区(2)和N+集电区(4)部分上表面的栅氧化层(5);位于所述栅氧化层(5)上表面的多晶栅(6);位于所述N‑型基区(1)下表面的背P+发射区(3);位于所述P型基区(2)上表面内以及所述N+集电区(4)上表面的发射极(8)。
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