[实用新型]组合式线圈检具

摘要

本实用新型组合式线圈检具属于线圈检具领域，解决了现有检测方式测量精度低，测量时间长以及测量效率低的问题，采用的技术方案：包括定位轴、上块和底座，定位轴的最大外径为线圈内径的标准尺寸，底座包括底座基体，底座基体的中心处开设有与定位轴相适应的底座滑孔，底座基体的上表面设置有下中心定位片，底座滑孔一侧的底座基体上开设有底座基准尺寸孔，底座基准尺寸孔中下部的底座基体上预设有下中心高度测量槽，上块包括上块基体，上块基体的中心处开设有与定位轴相适应的上块滑孔，上块基体的下表面设置有上中心定位片，上块滑孔一侧的上块基体上开设有上块中心尺寸孔，上块中心尺寸孔中上部的上块基体上预设有上中心高度测量槽。

主权项

组合式线圈检具，其特征在于：包括定位轴（1）、上块（2）和底座（3），定位轴（1）的最大外径为线圈内径的标准尺寸；所述底座（3）包括底座基体（31），底座基体（31）的中心处开设有与定位轴（1）相适应的底座滑孔（32），底座基体（31）的上表面设置有下中心定位片（33），底座滑孔（32）一侧的底座基体（31）上开设有底座基准尺寸孔（34），所述底座基准尺寸孔（34）中下部的底座基体（31）上预设有下中心高度测量槽（35）；所述上块（2）包括上块基体（21），上块基体（21）的中心处开设有与定位轴（1）相适应的上块滑孔（22），上块基体（21）的下表面设置有上中心定位片（23），上块滑孔（22）一侧的上块基体（21）上开设有上块中心尺寸孔（24），所述上块中心尺寸孔（24）中上部的上块基体（21）上预设有上中心高度测量槽（25）。