[实用新型]一种光学测试治具有效
| 申请号： | 201520998752.1 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN205175665U | 公开（公告）日： | 2016-04-20 |
| 发明（设计）人： | 刘攀 | 申请（专利权）人： | 阔展科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518108 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试治具，具体为一种光学测试治具，治具由轨道，刻度尺，角度尺，活动底座，支架组成，轨道平台上有刻度尺，轨道平台上有一个活动底座，活动底座的上半部分可以旋转，可旋转部分上面有角度尺，轨道平台的另外一端是支架，支架上装有红外线测试仪器，活动底座在轨道平台上可以直线移动，便于产品生产测试。要解决的技术问题是摄像机生产过程中不易测试红外灯的发光强度和发光角度，本实用新型的目的在于提供一种测试治具，成本低，使用方便，满足生产测试需要。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测试 | ||
【主权项】：
一种光学测试治具，包括一摄影机，一轨道平台，一刻度尺，一活动底座，一支架及一红外线测试仪器，其特征在于：轨道平台上有刻度尺，轨道平台上有一个活动底座，活动底座的上半部分可以旋转，可旋转部分上面有角度尺，轨道平台的另外一端是支架，支架上装有红外线测试仪器， 活动底座在轨道平台上可以直线移动。
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