[实用新型]一种气室结构、气体检测箱及气体检测系统有效

专利信息
申请号: 201521000355.7 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN205209955U 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 韩敏艳;骆德全;牟健;张德龙;周欣 申请(专利权)人: 北京大方科技有限责任公司
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N21/01
代理公司: 北京思睿峰知识产权代理有限公司 11396 代理人: 谢建云;董宁
地址: 100875 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种气室结构,适于安装在气体检测箱中,包括:基座;设置于基座上的光学发射端和光学接收端;以及设置于基座上的样气室,其侧壁上设有通气口,所述样气室在靠近光学发射端的一端设有第一凹面反射镜,远离光学发射端的另一端设有第二凹面反射镜。在第一凹面反射镜上设有光孔,供光学发射端发出光束入射样气室以及供经过第一凹面反射镜和第二凹面反射镜多次反射后的光束返回光学接收端。其中,光学发射端包括同轴封装激光器和独立温度控制系统。同轴封装激光器适于向样气室发射光线;独立温度控制系统适于自动调节同轴封装激光器的温度。本实用新型还提供一种气体检测箱及气体检测系统。
搜索关键词: 一种 结构 气体 检测 系统
【主权项】:
一种气室结构,适于安装在气体检测箱中,其特征在于,包括:基座;设置于基座上的光学发射端和光学接收端;以及设置于基座上的样气室,其侧壁上设有通气口,所述样气室在靠近光学发射端的一端设有第一凹面反射镜,远离光学发射端的另一端设有第二凹面反射镜,所述第一凹面反射镜上设有光孔,供光学发射端发出光束入射样气室以及供经过第一凹面反射镜和第二凹面反射镜多次反射后的光束返回光学接收端;其中,所述光学发射端包括同轴封装激光器和独立温度控制系统,所述同轴封装激光器适于向样气室发射光束,所述独立温度控制系统适于自动调节同轴封装激光器的温度。
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