[实用新型]一种透镜的检验装置有效
申请号: | 201521021728.9 | 申请日: | 2015-12-10 |
公开(公告)号: | CN205333104U | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 马冬云 | 申请(专利权)人: | 宜昌惠科科技有限公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 吴思高 |
地址: | 443005 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种透镜的检验装置,包括半导体激光二极管LD、固定组件、投影板,半导体激光二极管LD位于固定组件一侧,投影板位于固定组件另一侧,透镜位于固定组件上,固定组件上安装有调光组件。半导体激光二极管LD发出的激光束S,经调光组件将激光束S调整到透镜的入光面积的大小,激光束S通过透镜时,透镜上的缺陷直接投送在投影板上。本实用新型一种透镜的检验装置,能直观的显现透镜的优劣,如配光的均应性、结合线、少胶、磨花及镜面翘曲等。 | ||
搜索关键词: | 一种 透镜 检验 装置 | ||
【主权项】:
一种透镜的检验装置,包括半导体激光二极管(LD)、固定组件(1)、投影板(2),其特征在于,半导体激光二极管(LD)位于固定组件(1)一侧,投影板(2)位于固定组件(1)另一侧,透镜(3)位于固定组件(1)上,固定组件(1)上安装有调光组件(4);半导体激光二极管(LD)发出的激光束(S),经调光组件(4)将激光束(S)调整到透镜(3)的入光面积的大小, 激光束(S)通过透镜(3)时,透镜(3)上的缺陷直接投送在投影板(2)上。
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