[实用新型]整流二极管的抽取装置有效
申请号: | 201521026463.1 | 申请日: | 2015-12-13 |
公开(公告)号: | CN205508785U | 公开(公告)日: | 2016-08-24 |
发明(设计)人: | 鲁永忠 | 申请(专利权)人: | 重庆信德电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 | 代理人: | 蒙捷 |
地址: | 400021 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本专利公开了一种整流二极管的抽取装置,包括保存箱和设置于保存箱内的抽取单元,保存箱上设有第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽的侧壁上设有弹性的第一滑槽和第二滑槽,且第一滑槽与第二滑槽相对设置,第一凹槽的底部设有圆孔,第二凹槽的侧壁上设有若干层限位单元,每层限位单元包括两个橡胶的相对设置的凸起;抽取单元包括推板、左推杆、摇杆、右推杆和限位板,推板的形状与圆孔的形状相匹配,且推板位于圆孔内,左推杆的一端与推板固接,左推杆的另一端与摇杆的一端铰接,摇杆的另一端与右推杆铰接,摇杆的中部与保存箱的内壁铰接,限位板与右推杆垂直连接,且限位板设置于两个相对凸起的上方。本方案主要解决了现有整流二极管存放装置抽取不便的问题。 | ||
搜索关键词: | 整流二极管 抽取 装置 | ||
【主权项】:
整流二极管的抽取装置,其特征在于:包括保存箱和设置于保存箱内的抽取单元,所述保存箱上设有第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽的侧壁上设有弹性的第一滑槽和第二滑槽,所述第一滑槽和第二滑槽的宽度均小于整流二极管引脚的直径,且第一滑槽与第二滑槽相对设置,所述第一凹槽的底部设有圆孔,所述第二凹槽的侧壁上设有若干层限位单元,每层所述限位单元包括两个橡胶的相对设置的凸起;所述抽取单元包括推板、左推杆、摇杆、右推杆和限位板,所述推板的形状与圆孔的形状相匹配,且推板位于圆孔内,所述左推杆的一端与推板固接,左推杆的另一端与摇杆的一端铰接,摇杆的另一端与右推杆铰接,摇杆的中部与保存箱的内壁铰接,所述限位板与右推杆垂直连接,且限位板设置于两个相对凸起的上方,所述竖直方向上相邻两个凸起的间距等于竖直方向上相邻两个整流二极管的间距。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造