[实用新型]一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置有效
| 申请号： | 201521052849.X | 申请日： | 2015-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN205192424U | 公开（公告）日： | 2016-04-27 |
| 发明（设计）人： | 张俊霞;魏迎春;高燕 | 申请（专利权）人： | 榆林学院 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王霞 |
| 地址： | 719000*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置，属于冷凝器或降膜蒸发器中液膜厚度的测量技术领域。包括CPU板，在CPU板上设有C51芯片；沿待测液膜的波峰设置与待测液膜底边垂直的中心线，在中心线上依次等距离布设9个电导探针，每个电导探针连接一根IC总线，9根IC总线的另一接头设置在CPU板上。该装置结构简单紧凑，响应快，测量精度适中，能够对实验室用20～30mm的液膜厚度进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 厚度 随时 变化 实验 装置 | ||
【主权项】：
一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置，其特征在于，包括CPU板(10)，在CPU板(10)上设有C51芯片(12)；沿待测液膜(14)的波峰设置与待测液膜(14)底边垂直的中心线(15)，在中心线(15)上依次等距离布设9个电导探针，每个电导探针连接一根IC总线，9根IC总线的另一接头设置在CPU板(10)上；其中，1号～8号IC总线相互并联，并联后与0号IC总线串联形成闭合回路。
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