[实用新型]一种基于双磁光调制的精密测角装置有效
申请号: | 201521064870.1 | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN205607344U | 公开(公告)日: | 2016-09-28 |
发明(设计)人: | 陆卫国;魏永静;肖茂森;王海霞 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 陈广民 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本实用新型是一种基于双磁光调制的精密测角装置,包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元;偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及第一磁光调制器;准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源发出的出射光的光路上。本实用新型提供了一种精密测角装置,采用的是偏振光调制技术,具体实现方式是采用双磁光调制技术,该技术将光强度变化的频率作为角度信号的载体,从而使直接测量强度信号变为测量频率信号,通过信号处理来实现高精度角度测量。本实用新型具有测角速度快、灵敏度高以及作用距离远等特点。 | ||
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【主权项】:
一种基于双磁光调制的精密测角装置,其特征在于:所述精密测角装置包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元;所述偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及第一磁光调制器;所述准直扩束镜、起偏器以及第一磁光调制器依次设置在经光源发出的出射光的光路上;所述信号检测单元包括第二磁光调制器、偏振分光镜、第一聚光镜、第二聚光镜、第一光电转换器以及第二光电转换器;所述光源依次经过准直扩束镜、起偏器以及第一磁光调制器入射至第二磁光调制器,再进入偏振分光棱镜;所述偏振分光镜将入射光分为第一分束光以及第二分束光;所述第一聚光镜以及第一光电转换器依次设置在第一分束光的光路上;所述第二聚光镜以及第二光电转换器依次设置在第二分束光的光路上。
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