[实用新型]一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置有效

专利信息
申请号: 201521096356.6 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN205448974U 公开(公告)日: 2016-08-10
发明(设计)人: 周晓影;康娟;王小蕾;桑涛;李晨霞;赵春柳 申请(专利权)人: 中国计量学院
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置,它由宽带光源、入射单模光纤、S型光纤、长周期光栅、出射单模光纤、光功率计构成,其中长周期光栅刻于S型光纤上。通过将该传感结构固定在需测量的微位移平台上,当待测微位移发生变化时,S型光纤由于轴向应力导致弯曲度发生变化,即S型光纤两侧的垂直距离随着待测微位移的增大而减小,S型光纤的纤芯和包层能量分布发生变化,导致测量装置输出谐振峰的光强发生改变,通过监测该变化可以获得微位移的变化量。该装置可以避免使用复杂和昂贵的检测和解调系统,能够在环境参数测量中广泛地使用。
搜索关键词: 一种 基于 光纤 强度 解调 周期 光栅 位移 测量 装置
【主权项】:
一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置,包括宽带光源(1)、入射单模光纤(2)、S型光纤(3)、长周期光栅(4)、出射单模光纤(5)光功率计(6);宽带光源(1)的输出端与入射单模光纤(2)的一端相连,入射单模光纤(2)的另一端与长周期光栅(4)的一端相连,长周期光栅(4)的另一端与出射单模光纤(5)的一端相连,出射单模光纤(5)的另一端与光功率计(6)相连,S型光纤(3)位于长周期光栅(4)中间。
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