[实用新型]一种用于测试强度的治具有效
| 申请号： | 201521098259.0 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN205538466U | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 洪胜平;刘志敏;卢海伦;周峰 | 申请（专利权）人： | 南通富士通微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮;郭栋梁 |
| 地址： | 226006 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于测试强度的治具，包括：基准平台、夹持调节块和推力块，基准平台与夹持调节块相对间隔设置以提供将待测物体的一部分夹持于其中的夹持位置，推力块用于对位于夹持位置中的物体的未夹持部分施加推力以测试所述物体的强度。本实用新型提供的用于测试强度的治具，结构简单，成本较低，使用简易，特别方便在芯片磨划片后、捡片前，测试芯片的强度，提前发现芯片的强度问题，避免将有质量隐患的芯片封装，带来质量问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 强度 | ||
【主权项】：
一种用于测试强度的治具，其特征在于，包括：基准平台、夹持调节块和推力块，所述基准平台与所述夹持调节块相对间隔设置以提供将待测物体的一部分夹持于其中的夹持位置，所述推力块用于对位于夹持位置中的物体的未夹持部分施加推力以测试所述物体的强度。
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