[实用新型]新型超声振动辅助单颗磨粒划刻试验装置有效
申请号: | 201521125261.2 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN205317607U | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 赵明利;晁政;郭秋成;吕晓峰;聂立新;向道辉 | 申请(专利权)人: | 河南理工大学 |
主分类号: | G01N3/58 | 分类号: | G01N3/58 |
代理公司: | 郑州豫开专利代理事务所(普通合伙) 41131 | 代理人: | 朱俊峰 |
地址: | 454003 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 新型超声振动辅助单颗磨粒划刻试验装置,包括精密磨床,精密磨床包括工作台和沿前后水平方向设置的主轴,精密磨床上设有操控工作台沿X、Y、Z方向移动的进给微调机构,还包括支架、单颗磨粒划刻系统、超声振动系统、工业摄像机、高速摄像机、显示器、测力仪和数据处理系统;测力仪和工业摄像机均设在工作台上,超声振动系统和数据处理系统均位于测力仪一侧,工业摄像机和显示器位于测力仪另一侧,高速摄像机设在支架上,支架设在精密磨床一侧。本实用新型实时观测普通及超声辅助振动单颗磨粒的划刻过程,为研究陶瓷材料去除机理以及表面及边界质量的研究提供数据支持。 | ||
搜索关键词: | 新型 超声 振动 辅助 单颗磨粒划刻 试验装置 | ||
【主权项】:
新型超声振动辅助单颗磨粒划刻试验装置,包括精密磨床,精密磨床包括工作台和沿前后水平方向设置的主轴,精密磨床上设有操控工作台沿X、Y、Z方向移动的进给微调机构,其特征在于:还包括支架、单颗磨粒划刻系统、超声振动系统、工业摄像机、高速摄像机、显示器、测力仪和数据处理系统;测力仪和工业摄像机均设在工作台上,超声振动系统和数据处理系统均位于测力仪一侧,工业摄像机和显示器位于测力仪另一侧,高速摄像机设在支架上,支架设在精密磨床一侧;单颗磨粒划刻系统包括圆环形的刻划盘,刻划盘上中心对称设有金刚石刻划笔和配重块,刻划盘同轴向设在精密磨床的主轴上;超声振动系统包括变幅杆、换能器、发生器电源和工装;工装设在测力仪上,发生器电源通过电线与换能器连接,变幅杆呈圆锥形或阶梯型结构,换能器与变幅杆的较小端连接,变幅杆的较大端与工装一侧连接;数据处理系统包括依次通过数据线连接的电荷放大器、数据采集卡和计算机,电荷放大器的数据采集端与测力仪的数据输出端连接。
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