[实用新型]用于感测辊上的材料的外表面的感测装置有效

专利信息
申请号: 201521127403.9 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN205748293U 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: J·布卢姆菲尔德;K·韦纳 申请(专利权)人: 意法半导体公司
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;杨立
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种感测装置用于感测辊上的材料的外表面。红外(IR)激光源被配置成用于将IR激光辐射引导至该辊上的材料的外表面。单光子雪崩二极管(SPAD)检测器被配置成用于接收来自该辊上的材料的外表面的反射IR激光辐射。控制器被耦合至该IR激光源和该SPAD检测器以基于该IR激光辐射的飞行时间测定到该辊上的材料的外表面的距离。
搜索关键词: 用于 感测辊上 材料 外表 装置
【主权项】:
一种用于感测辊上的材料的外表面的感测装置,其特征在于,所述感测装置包括:红外激光源,所述红外激光源被配置成用于将红外激光辐射引导至所述辊上的材料的所述外表面;单光子雪崩二极管检测器,所述单光子雪崩二极管检测器被配置成用于接收来自所述辊上的材料的所述外表面的反射红外激光辐射;以及控制器,所述控制器被耦合至所述红外激光源和所述单光子雪崩二极管检测器以基于所述红外激光辐射的飞行时间确定到所述辊上的材料的所述外表面的距离。
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