[实用新型]芯片测试装置有效
| 申请号： | 201521127536.6 | 申请日： | 2015-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN205263266U | 公开（公告）日： | 2016-05-25 |
| 发明（设计）人： | 曹子意 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 刘洪勋 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种芯片测试装置；包括框架、上按压盖板、转动压块、测试中心座和浮动平台，上按压盖板在框架上沿垂直于框架方向相对运动，上按压盖板与框架之间设置有第一弹性件；转动压块为两个、且两端均转动连接在框架上，转动压块上设置有转动臂和按压臂，转动臂上设置有条形通孔，条形通孔内设置有相对滑动的限位件，限位件与上按压盖板固定连接，转动压块的中部设置按压臂，按压臂上设置有按压件；框架的中部固定测试中心座，测试中心座的顶部通过第二弹性件连接有浮动平台，浮动平台上设置有芯片检测位；本实用新型的目的是提供一种使用寿命较长，对于PAD数较多的芯片也适用的芯片测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试装置，其特征在于：包括框架、上按压盖板、转动压块、测试中心座和浮动平台，所述上按压盖板在所述框架上沿垂直于所述框架方向相对运动，所述上按压盖板与所述框架之间设置有第一弹性件；所述转动压块为两个、且两端均转动连接在所述框架上，所述转动压块上设置有转动臂和按压臂，所述转动臂上设置有条形通孔，所述条形通孔内设置有相对滑动的限位件，所述限位件与所述上按压盖板固定连接，所述转动压块的中部设置所述按压臂，所述按压臂上设置有按压件；所述框架的中部固定所述测试中心座，所述测试中心座的顶部通过第二弹性件连接有浮动平台，所述浮动平台上设置有芯片检测位，所述按压件位于所述芯片检测位的顶部两侧。
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