[实用新型]一种集成肖特基二极管的SiC沟槽型MOSFET器件有效

专利信息
申请号: 201521141019.4 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN205595339U 公开(公告)日: 2016-09-21
发明(设计)人: 钮应喜;郑柳;杨霏;温家良;潘艳;李永平;王嘉铭;李玲;夏经华;朱韫晖 申请(专利权)人: 国网智能电网研究院;国家电网公司;国网上海市电力公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/04
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 102211 北京市昌平区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种集成肖特基二极管的SiC沟槽型MOSFET器件,所述器件包括:1)沟槽型MOSFET:N+衬底及其上的N‑漂移层,所述N‑漂移层包含彼此隔离的有N+源区的P阱;所述P阱外侧的U型沟道,所述U型沟道表面有氧化层,其内有栅极;所述栅极及部分N+源区上为隔离层;正面为源极及背面为漏极;2)肖特基二极管:所述N‑漂移层内的所述P阱间的N‑漂移层与所述源极金属形成的肖特基接触。本实用新型通过在沟槽型SiCMOSFET中引入肖特基二极管,在器件工作时,起续流二极管的作用,提高了电路工作的效率与可靠性,降低了电路制作成本。
搜索关键词: 一种 集成 肖特基 二极管 sic 沟槽 mosfet 器件
【主权项】:
一种集成肖特基二极管的SiC沟槽型MOSFET器件,其特征在于,所述器件包括:沟槽型MOSFET:N+衬底及其上的N‑漂移层,所述N‑漂移层包含彼此隔离的有N+源区的P阱;所述P阱外侧的U型沟道,所述U型沟道表面有氧化层,其内有栅极;所述栅极及部分所述N+源区上为隔离层;正面为源极及背面为漏极;肖特基二极管:所述N‑漂移层内的所述P阱间的N‑漂移层与所述源极金属形成的肖特基接触。
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