[发明专利]一种具有自动清洗与自动清除功能的光离子化侦测器之改良量测系统在审

专利信息
申请号: 201580000254.6 申请日: 2015-01-12
公开(公告)号: CN106537132A 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 陈惠好 申请(专利权)人: R2CD集团私人有限公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N21/33
代理公司: 汕头市南粤专利商标事务所(特殊普通合伙)44301 代理人: 余飞峰
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明系揭示一种使用光离子化侦测器(Photo‑Ionization Detector,PID )的清除与连续量测系统。该系统具有一第一导管(20),用以在一量测周期内将端口(16)的周围气体导入用以在该PID内的一电离室(10)量测,一泵(48),一第二导管(22)用以流通埠(18)的周围空气,以及该PID的一清洗室(10),其移除在周围空气内的污染物与杂质,以及一第一阀(30A)用以让埠(16)的周围气体或埠(18)的周围空气引导流入该电离室(10),而一第二阀(30B)用以将埠(16)的清洗与过滤后的周围气体和埠(18)的周围空气排出,电离室(10)内残留的空气中污染物与杂质在该量测周期后会被端口(16)的周围气体排出,其特征在于该第一阀(30A)系被放置为,该第一导管(20)与该第二导管(22)进入该第一阀(30A),而一出口从该第一阀 (30A)连至该电离室(10),以及该第二阀(30B)系被设置于该泵(48),连至一进入空气中的流出导管,以及连至该第一导管(20);在该第一周期的一量测周期中,在端口(16)的周围气体会因为该泵(48)的操作被抽至该电离室(10),而在一清洗与清除周期的第二周期,端口(18)的周围空气会在该清洗室 (12)内被清洗并抽出,以排出在量测周期内因为端口 (16)的周围气体离子化而在该电离室 (10)的空气中所产生的杂质和污染物,并经由该流出导管(26)排出埠(16)。
搜索关键词: 一种 具有 自动 清洗 清除 功能 离子化 侦测 改良 系统
【主权项】:
一种在一量测系统中用于一光离子化侦测器(PID)的清除与清洗功能,该PID具有一第一导管(20),用以在一量测周期内将端口(16)的周围气体导入用以在该PID的一电离室(10)内量测,一泵(48),一第二导管(22)用以流通埠(18)的周围空气,以及该PID的一清洗室(12),其移除在周围空气内的污染物与杂质,以及一第一阀(30A)用以将埠(16)的周围气体或埠(18)的周围空气引导流入该电离室(10),而一第二阀(30B)用以将埠(16)的清洗与过滤后的周围气体和埠(18)的周围空气排出,电离室(10)内残留的空气中污染物与杂质在该量测周期后会被端口(16)的周围气体排出,其特征在于该第一阀(30A)系被放置为,该第一导管(20)与该第二导管(22)进入该第一阀(30A),而一出口从该第一阀(30A)连至该电离室 (10),通到该泵(48),以及该第二阀 (30B)系被设置为连接该泵 (48),并连至一进入空气中的流出导管,以及连至该第一导管(20);在该第一周期的一量测周期中,在端口(16)的周围气体会因为该泵(48)的操作被抽至该电离室(10),而在一清洗与清除周期的第二周期,端口(18)的周围空气会在该清洗室 (12)内被清洗并抽出,以排出在量测周期内因为端口(16)的周围气体离子化而在该电离室(10)的空气中所产生的杂质和污染物,并经由该流出导管(26)排出埠(16)。
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