[发明专利]用于控制X射线探测器的系统有效

专利信息
申请号: 201580002850.8 申请日: 2015-05-06
公开(公告)号: CN105792753B 公开(公告)日: 2017-09-19
发明(设计)人: H-I·马克 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 李光颖,王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于控制用于对X射线辐射的探测的X射线探测器(11)的系统(1)、包括这种系统(1)的X射线成像装置(3)以及用于控制用于对X射线辐射的探测的X射线探测器(11)的方法。用于对X射线辐射的探测的系统(1)包括触发器设备(12)。该触发器设备(12)被配置为远离X射线探测器(11)被布置。触发器设备(12)还被配置为被数据链接到X射线探测器(11)。触发器设备(12)被配置为确定X射线管(2)的X射线曝光的开始,生成激活信号并且将这种信号传递到X射线探测器(11)以激活图像探测。
搜索关键词: 用于 控制 射线 探测器 系统
【主权项】:
一种用于控制用于对X射线辐射的探测的X射线探测器(11)的系统(1),包括触发器设备(12),其中,所述触发器设备(12)被配置为远离所述X射线探测器(11)被布置;其中,所述触发器设备(12)被配置为被数据链接到所述X射线探测器(11);其中,所述触发器设备(12)被配置为响应于探测到由X射线管发射的X射线辐射而确定通过所述X射线管(2)的X射线曝光的开始,生成激活信号并且将所述激活信号传递到所述X射线探测器(11)以激活由所述探测器(11)对X射线辐射的探测;并且其中,所述触发器设备(12)包括被配置用于测量所述触发器设备(12)的取向的倾斜传感器,其中,所述触发器设备(12)被配置为从多个X射线探测器中选择具有基本匹配的取向的X射线探测器。
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