[发明专利]羧酸气体浓度的估算方法及焊接装置有效
申请号: | 201580003345.5 | 申请日: | 2015-01-06 |
公开(公告)号: | CN106029277B | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | 小林秀雄;小泽直人;松田纯 | 申请(专利权)人: | 欧利生电气株式会社 |
主分类号: | B23K1/008 | 分类号: | B23K1/008;B23K1/00;B23K31/02;G01J5/00;B23K101/40 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,吴启超 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种能够即时且安全地测量焊接装置的腔室(10)内的甲酸气体等羧酸气体浓度的估算方法、及能够估算腔室内的羧酸气体浓度的焊接装置。使用能够不受羧酸对红外线吸收的影响来测量温度的温度计(第一温度计)(37)、及以羧酸所吸收的波长区域的红外线来测量温度的辐射温度计(第二温度计)(38),并在同一时间点来测量已被配置于前述腔室内的同一物体的表面温度,且由第一温度计与第二温度计的温度差值(ΔTx),来估算腔室内的羧酸气体浓度。焊接装置具备加热台(30)、惰性气体与羧酸气体的混合气体导入机构(25)、气体排出机构(26)、第一温度计(37)、及第二温度计(38)。 | ||
搜索关键词: | 羧酸 气体 浓度 估算 方法 焊接 装置 | ||
【主权项】:
一种羧酸气体浓度的估算方法,是估算导入有反应用羧酸气体的腔室内的羧酸气体浓度的方法,其特征在于:使用能够不受羧酸对红外线吸收的影响来测量温度的温度计也就是第一温度计、及以羧酸所吸收的波长区域的红外线来测量温度的辐射温度计也就是第二温度计,并在同一时间点来测量已被配置于前述腔室内的同一物体的表面温度,且由前述第一温度计与前述第二温度计的温度差值也就是ΔTx,来估算腔室内的羧酸气体浓度大小。
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